SULJE VALIKKO

avaa valikko

Power, Thermal, Noise, and Signal Integrity Issues on Substrate/Interconnects Entanglement
145,90 €
Taylor & Francis Ltd
Sivumäärä: 226 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2019, 28.03.2019 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
As demand for on-chip functionalities and requirements for low power operation continue to increase as a result of the emergence in mobile, wearable and internet-of-things (IoT) products, 3D/2.5D have been identified as an inevitable path moving forward. As circuits become more and more complex, especially three-dimensional ones, new insights have to be developed in many domains, including electrical, thermal, noise, interconnects, and parasites. It is the entanglement of such domains that begins the very key challenge as we enter in 3D nano-electronics. This book aims to develop this new paradigm, going to a synthesis beginning between many technical aspects.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Power, Thermal, Noise, and Signal Integrity Issues on Substrate/Interconnects Entanglementzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780367023430
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste