Pore Characterization of Ultralow-K Dielectric Thin Films Using Positronium Annihilation Spectroscopy., Liu, Ming, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Pore Characterization of Ultralow-K Dielectric Thin Films Using Positronium Annihilation Spectroscopy.

Ming Liu

122,50 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 270 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Pore Characterization of Ultralow-K Dielectric Thin Films Using Positronium Annihilation Spectroscopy.

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243578174

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » Chemistry » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste