Low Frequency Noise as a Characterization and Reliability Tool for the Evaluation of Advanced Mosfets., Lim, Paul, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Low Frequency Noise as a Characterization and Reliability Tool for the Evaluation of Advanced Mosfets.

Paul Lim

120,80 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 150 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Low Frequency Noise as a Characterization and Reliability Tool for the Evaluation of Advanced Mosfets.

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243663900

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste