SULJE VALIKKO

avaa valikko

Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques : 12th International Conference, STM'03
117,10 €
American Institute of Physics
Sivumäärä: 179 sivua
Asu: Moniviestin
Painos: 2003
Julkaisuvuosi: 2003, 19.12.2003 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: AIP Conference Proceedings 696

At this conference the latest developments in the design, construction, and application of scanning probe microscopy like Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) in the fields of nanotechnology, physics, chemistry, and biology were discussed.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques : 12th International Conference, STM'03
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780735401686
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste