SULJE VALIKKO

avaa valikko

Damage to Vuv, Euv, and X-Ray Optics IV; and Euv and X-Ray Optics - Synergy Between Laboratory and Space III
222,30 €
SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 30.06.2013 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Other: Rene Hudec, Richard London, Sa'A Bajt

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Damage to Vuv, Euv, and X-Ray Optics IV; and Euv and X-Ray Optics - Synergy Between Laboratory and Space III
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819495792
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste