SULJE VALIKKO

Näistä puhumme juuri nyt!
Lue ennen kuin katsot
Henkilökunnan suosikit
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Keltainen Kirjasto
Otavan kirjasto
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

avaa valikko

Nanobeam X-Ray Scattering Probing Matter at the Nanoscale
J Stangl
112,50 €
Wiley VCH
Sivumäärä: 284 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 23.10.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Nanobeam X-Ray Scattering Probing Matter at the Nanoscale
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783527410774
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste