A S M International Sivumäärä: 500 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2016, 30.01.2016 (lisätietoa) Kieli: Englanti
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Follow the Data!