KIRJAUDU
ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis
156,80 €
A S M International
Sivumäärä: 500 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 30.04.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 500 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 30.04.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Exploring the Many Facets of Failure Analysis.
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781627080743
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |