SULJE VALIKKO

Aloita uusi vuosi uusilla tarinoilla
Näistä puhumme juuri nyt!
Lue ennen kuin katsot
Henkilökunta suosittelee
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Keltainen Kirjasto
Otavan kirjasto
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Akateeminen Kirjakauppa
akateeminen.com
Myymälät
Yhteystiedot
Uutiset

avaa valikko

ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis
ASM International
156,90 €
A S M International
Sivumäärä: 500 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 30.04.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Exploring the Many Facets of Failure Analysis.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781627080743
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Material Science
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Yhteystiedot
Toimitusehdot
Asiakaspalvelu
Tietosuojaseloste