VLSI Test Symposium (VTS 2003), 21st IEEE, IEEE, I.E.E.E.Press

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

VLSI Test Symposium (VTS 2003), 21st IEEE

IEEE

241,40 €

I.E.E.E.Press
Sivumäärä: 492 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2003, 01.01.2003 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

VLSI Test Symposium (VTS 2003), 21st IEEE

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780769519241

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste