SULJE VALIKKO

avaa valikko

X-Ray Absorption Fine Structure -- XAFS13 : 13th International Conference
229,80 €
American Institute of Physics
Sivumäärä: 937 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2007
Julkaisuvuosi: 2007, 09.03.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: AIP Conference Proceedings 882

The scope of this Conference was X-ray Absorption Fine Structure (XAFS) and related techniques and topics using synchrotron radiation. Many techniques and theories focusing on XAFS-related phenomena are presented. These techniques are used in many scientific areas to study electronic and real space structure of a multitude of materials.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
X-Ray Absorption Fine Structure -- XAFS13 : 13th International Conference
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780735403840
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste