SULJE VALIKKO

avaa valikko

Noise in Nanoscale Semiconductor Devices
88,20 €
Springer
Sivumäärä: 729 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2021, 27.04.2021 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book summarizes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices.  Readers will benefit from this leading-edge research, aimed at increasing reliability based on physical microscopic models.  Authors discuss the most recent developments in the understanding of point defects, e.g. via ab initio calculations or intricate measurements, which have paved the way to more physics-based noise models which are applicable to a wider range of materials and features, e.g. III-V materials, 2D materials, and multi-state defects.

  • Describes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices;
  • Enables readers to design more reliable semiconductor devices;
  • Offers the most up-to-date information on point defects, based on physical microscopic models.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Noise in Nanoscale Semiconductor Deviceszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783030375027
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste