New Trends & Potentialities of Tof-SIMS in Surface Studies, Grams, Jacek, Nova Science Publishers Inc

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

New Trends & Potentialities of Tof-SIMS in Surface Studies

Jacek Grams

249,70 €

Nova Science Publishers Inc
Sivumäärä: 273 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 01.09.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book presents the latest trends and applications of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS). It includes research and applications of the new primary ion guns. It also describes new possibilities of mass spectrometers and instrumentation development.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus