SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Secondary Ion Mass Spectrometry - Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
81,90 €
MP-MMN Momentum Press
Sivumäärä: 150 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 15.09.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Secondary Ion Mass Spectrometry - Applications for Depth Profiling and Surface Characterizationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781606505885
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste