SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, A
49,60 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 478 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2014
Julkaisuvuosi: 2014, 04.08.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2014; comprising the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition, SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The total of 25 full papers and 22 poster papers included in this book were carefully reviewed and selected from 78 submissions. They are organized in topical sections named: graph kernels; clustering; graph edit distance; graph models and embedding; discriminant analysis; combining and selecting; joint session; metrics and dissimilarities; applications; partial supervision; and poster session.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2014, Joensuu, Finland, A
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783662444146
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste