SULJE VALIKKO

avaa valikko

A Study of Gate-Oxide Leakage in Mos Devices
124,30 €
Open Dissertation Press
Sivumäärä: 222 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 27.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
A Study of Gate-Oxide Leakage in Mos Deviceszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781374776289
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste