SULJE VALIKKO

avaa valikko

Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
177,30 €
Springer US (SPR)
Painos: Hardcover, 2. editio
Julkaisuvuosi: 1996, 01.05.1996 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

PWithin the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. EMElectron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope/EM has become the standard reference guide describing the instrumentation, physics, and procedures involved and the kind of results obtainable. /PP/PPWithin the last few years, lens-aberration correctors and electron-beam monochromators have become commercially available and have further increased the spatial and energy resolution of EELS. The third edition will include these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology./P TOC:PChapter 1: An Introduction to Electron Energy-Loss Spectroscopy/PPChapter 2: Instrumentation for EELS/PPChapter 3: Physics of Electron Scattering/PPChapter 4: Quantitative Analysis of Energy-Loss Data/PPChapter 5: Applications/PPAppendices: Relativistic Bethe Theory, Computer programs, Tables of Plasmon and Edge energies, electron wavelengths etc./P

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscopezoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306452239
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste