SULJE VALIKKO

avaa valikko

Microscopy of Semiconducting Materials - 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, Universi
608,60 €
Taylor & Francis Ltd
Sivumäärä: 772 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1
Julkaisuvuosi: 2000, 01.01.2000 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
With IC technology continuing to advance, the analysis of very small structures remains critically important. Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. The book explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the book discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots.

This volume provides an authoritative reference for all academics and researchers in materials science, electrical and electronic engineering and instrumentation, and condensed matter physics.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Microscopy of Semiconducting Materials - 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, Universizoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780750306508
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste