Synchrotron Polychromatic X-Ray Laue Microdiffraction Studies of Electromigration in Aluminum (Copper) Interconnects and Lead-Fr, Chen, Kai, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Synchrotron Polychromatic X-Ray Laue Microdiffraction Studies of Electromigration in Aluminum (Copper) Interconnects and Lead-Fr

Kai Chen

131,40 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 146 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

$Synchrotron Polychromatic X-Ray Laue Microdiffraction Studies of Electromigration in Aluminum (Copper) Interconnects and Lead-Fr$

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243733764

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste