SULJE VALIKKO

avaa valikko

Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models
52,30 €
Elsevier Science Publishing Co Inc
Sivumäärä: 108 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 10.03.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 06.12.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Modelszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780128007471
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste