SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Integrated Circuit Failure Analysis - A Guide to Preparation Techniques
214,10 €
John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 190 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1998, 19.01.1998 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Integrated Circuit Failure Analysis - A Guide to Preparation Techniqueszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471974017
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste