KIRJAUDU
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
151,10 €
A S M International
Sivumäärä: 660 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2018, 30.01.2018 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 660 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2018, 30.01.2018 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781627081504
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |