John Wiley & Sons Inc Sivumäärä: 360 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2nd edition Julkaisuvuosi: 1997, 20.06.1997 (lisätietoa) Kieli: Englanti
In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.