Microstructure Characterization of High Tc Superconducting Thin Films and Multilayer Josephson Junctions, 楊曄; Yang, Ye, Open Dissertation Press

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Microstructure Characterization of High Tc Superconducting Thin Films and Multilayer Josephson Junctions

楊曄, Ye Yang

123,40 €

Open Dissertation Press
Sivumäärä: 140 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 27.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Microstructure Characterization of High Tc Superconducting Thin Films and Multilayer Josephson Junctions

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781374754102

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste