SULJE VALIKKO

avaa valikko

Ulkomaiset kirjat, Science, Electron Microscopes & Microscopy | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 112 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Atomic Force Microscopy in Process Engineering : An Introduction to AFM for Improved Processes and Products
W. Richard Bowen; Nidal Hilal
Butterworth-Heinemann (2009)
Kovakantinen kirja
138,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2004)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics : Calculus of Finite Differences in Quantum Electrodynamics
Beate Meffert; Henning Harmuth
Academic Press (2003)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2005)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics : Dogma of the Continuum and the Calculus of Finite Differences in Quantum Physics
Beate Meffert; Henning Harmuth
Academic Press (2005)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2006)
Kovakantinen kirja
207,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2007)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2007)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Academic Press (2008)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Peter W. Hawkes
Academic Press (2006)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics
Academic Press (2000)
Kovakantinen kirja
228,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Digital Imaging Detectors for Electron Microscopy
Augus I. Kirkland Kirkland; Grigore Moldovan
WORLD SCIENTIFIC PUB CO ( (2011)
Kovakantinen kirja
152,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Imaging and Electron Physics : The Scanning Transmission Electron Microscope
Academic Press (2009)
Kovakantinen kirja
212,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Microcosmos
Brandon Broll
Firefly Books (2010)
Pehmeäkantinen kirja
40,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Kindling 6
Ludwig Reimer
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy
Adam Foster; Werner A. Hofer; M. Bidjan-Irani
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Hedonic Methods in Housing Markets
Ludwig Reimer
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy
Jeanne Ayache; Luc Beaunier; Jacqueline Boumendil
KLUWER ACADEMIC PUBL (2010)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy
Jeanne Ayache; Luc Beaunier; Jacqueline Boumendil
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Computing in Electron Microscopy
Earl J. Kirkland
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Pehmeäkantinen kirja
66,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic Force Microscopy in Process Engineering : An Introduction to AFM for Improved Processes and Products
138,90 €
Butterworth-Heinemann
Sivumäärä: 304 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 03.07.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This is the first book to bring together both the basic theory and proven process engineering practice of AFM. It is presented in a way that is accessible and valuable to practising engineers as well as to those who are improving their AFM skills and knowledge, and to researchers who are developing new products and solutions using AFM.

The book takes a rigorous and practical approach that ensures it is directly applicable to process engineering problems. Fundamentals and techniques are concisely described, while specific benefits for process engineering are clearly defined and illustrated. Key content includes: particle-particle, and particle-bubble interactions; characterization of membrane surfaces; the development of fouling resistant membranes; nanoscale pharmaceutical analysis; nanoengineering for cellular sensing; polymers on surfaces; micro and nanoscale rheometry.




  • Atomic force microscopy (AFM) is an important tool for process engineers and scientists as it enables improved processes and products
  • The only book dealing with the theory and practical applications of atomic force microscopy in process engineering
  • Provides best-practice guidance and experience on using AFM for process and product improvement


Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atomic Force Microscopy in Process Engineering : An Introduction to AFM for Improved Processes and Productszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste