![Akateeminen Kirjakauppa](/images/index/logo-1195.jpg)
SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
TERRESTRIAL NEUTRON-INDUCED SOFT ERROR IN ADVANCED MEMORY DEVICES | |||
| Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices 144,90 € World Scientific Publishing Co Pte Ltd Sivumäärä: 368 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2008, 03.04.2008 (lisätietoa) Kieli: Englanti Terrestrial neutron-induced soft errors in semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices.This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 12-15 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
![]() ![]() ![]() ![]() Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9789812778819 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |