Xinmao Yin | Akateeminen Kirjakauppa

INTRODUCTION TO SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY OF THIN FILM MATERIALS - INSTRUMENTATION, DATA ANALYSIS, AND APPLICATIONS

Andrew T. S. Wee; Xinmao Yin; Chi Sin Tang
Wiley-VCH Verlag GmbH (2022)
Pehmeäkantinen kirja

112,10 €

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Andrew T. S. Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang

112,10 €

Wiley-VCH Verlag GmbH
Sivumäärä: 208 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 13.04.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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