SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

William Steven Riley | Akateeminen Kirjakauppa

THE APPLICABILITY OF X-RAY DIFFRACTION METHODS OF STRESS MEASUREMENT TO NAVAL STRUCTURES WITH AN INVESTIGATION OF THE STRESS DIS

The applicability of x-ray diffraction methods of stress measurement to naval structures with an investigation of the stress dis
Melvin Wilbur Brown; William Steven Riley
Kniga po trebovaniyu
15,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The applicability of x-ray diffraction methods of stress measurement to naval structures with an investigation of the stress dis
15,90 €
Kniga po trebovaniyu
Kieli: Venäjä
Vosproizvedeno v original'noj avtorskoj orfografii izdaniya 1949 goda (izdatel'stvo "Massachusetts Institute of Technology").

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
The applicability of x-ray diffraction methods of stress measurement to naval structures with an investigation of the stress dis
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9785881764166
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste