SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
THE APPLICABILITY OF X-RAY DIFFRACTION METHODS OF STRESS MEASUREMENT TO NAVAL STRUCTURES WITH AN INVESTIGATION OF THE STRESS DIS | ||
| The applicability of x-ray diffraction methods of stress measurement to naval structures with an investigation of the stress dis 15,90 € Vosproizvedeno v original'noj avtorskoj orfografii izdaniya 1949 goda (izdatel'stvo "Massachusetts Institute of Technology"). Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9785881764166 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |