SULJE VALIKKO

avaa valikko

Wieslaw Marciniak | Akateeminen Kirjakauppa

DIAGNOSTIC MEASUREMENTS IN LSI/VLSI INTEGRATED CIRCUITS PRODUCTION

Diagnostic Measurements In Lsi/vlsi Integrated Circuits Production
Andrzej Jakubowski; Wieslaw Marciniak; Henryk M Przewlocki
World Scientific Publishing Co Pte Ltd (1991)
Kovakantinen kirja
120,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Diagnostic Measurements In Lsi/vlsi Integrated Circuits Production
120,00 €
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Sivumäärä: 372 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1991, 01.04.1991 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book describes means in improving the technology of LSI/VLSI ICs production. It does so by concentrating on improvements of manufacturing yield and quality of the products by detecting weak points which should be eliminated on the way up the learning curve. The book presents a systematic approach to the problem, covering primarily methods based on the use of test patterns measurements, in both mass production and in research and development activities. The main groups of defects found in IC chips and ways to detect them using test structures are discussed in detail.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Diagnostic Measurements In Lsi/vlsi Integrated Circuits Productionzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9789810202828
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste