SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
CHARACTERIZATION AND METROLOGY FOR ULSI TECHNOLOGY 2000 : INTERNATIONAL CONFERENCE | ||
| Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000 : International Conference 197,70 € American Institute of Physics Sivumäärä: 708 sivua Asu: Moniviestin Painos: 2001 Julkaisuvuosi: 2001, 01.03.2001 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: AIP Conference Proceedings 550 Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781563969676 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |