SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Scanning Probe Microscopy - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy 147,10 € Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Sivumäärä: 382 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2015 ed. Julkaisuvuosi: 2015, 23.03.2015 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: NanoScience and Technology This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783662452394 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |