SULJE VALIKKO

avaa valikko

Voigtlander Bert Voigtlander | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Scanning Probe Microscopy - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Bert Voigtländer
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2015)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
147,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Bert Voigtländer
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2016)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
147,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic Force Microscopy
Bert Voigtländer
Springer Nature Switzerland AG (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic Force Microscopy
Bert Voigtländer
Springer Nature Switzerland AG (2020)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy
Voigtlander Bert Voigtlander
Springer Nature B.V. (2015)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
115,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Deutsche Landes- Und Provinzialgeschichte
Robert Voigtlander
WENTWORTH PR (2019)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Kovakantinen kirja
87,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Deutsche Landes- Und Provinzialgeschichte
Robert Voigtlander
Creative Media Partners, LLC (2018)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
34,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Gesetz UEber Das Verlagsrecht Vom 19. Juni 1901 in Der Fassung Vom 22. Mai 1910 - Erlauterungsbuch
Voigtlander Elster; Robert Alexander
de Gruyter (1939)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Kovakantinen kirja
227,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
147,10 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 382 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2015 ed.
Julkaisuvuosi: 2015, 23.03.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Scanning Probe Microscopy - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783662452394
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste