SULJE VALIKKO

avaa valikko

Voigtlander Bert Voigtlander | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 9 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Bert Voigtländer
Springer (2015)
Kovakantinen kirja
152,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Bert Voigtländer
Springer (2016)
Pehmeäkantinen kirja
152,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic Force Microscopy
Bert Voigtländer
Springer (2019)
Kovakantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic Force Microscopy
Bert Voigtländer
Springer (2020)
Pehmeäkantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy
Voigtlander Bert Voigtlander
Springer Nature B.V. (2015)
Pehmeäkantinen kirja
119,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Die Gesetze, Betreffend Das Urheberrecht an Werken Der Literatur Und Der Tonkunst Sowie an Werken Der Bildenden Kunst Und Der Ph
Robert Voigtländer; Alexander Elster; Heinz Kleine
De Gruyter (1952)
Kovakantinen kirja
197,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Deutsche Landes- Und Provinzialgeschichte
Robert Voigtlander
WENTWORTH PR (2019)
Kovakantinen kirja
90,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Deutsche Landes- Und Provinzialgeschichte
Robert Voigtlander
Creative Media Partners, LLC (2018)
Pehmeäkantinen kirja
38,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Gesetz UEber Das Verlagsrecht Vom 19. Juni 1901 in Der Fassung Vom 22. Mai 1910 - Erlauterungsbuch
Voigtlander Elster; Robert Alexander
de Gruyter (1939)
Kovakantinen kirja
236,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
152,40 €
Springer
Sivumäärä: 382 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 23.03.2015 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NanoScience and Technology

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783662452394
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste