Tzu-Ling Ni | Akateeminen Kirjakauppa

OPTICAL ADMITTANCE LOCI MONITORING FOR THIN FILM DEPOSITION

Tekijä: Cheng-Chung Lee; Kai Wu; Tzu-Ling Ni
Kustantaja: LAP Lambert Academic Publishing (2012)
Saatavuus: Noin 5-8 arkipäivää

EUR 72,10

Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition

72,10 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2012, 09.05.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 5-8 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659001987

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja