Tzu-Ling Ni | Akateeminen Kirjakauppa

OPTICAL ADMITTANCE LOCI MONITORING FOR THIN FILM DEPOSITION

Cheng-Chung Lee; Kai Wu; Tzu-Ling Ni
LAP Lambert Academic Publishing (2012)
Pehmeäkantinen kirja

96,00 €

Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition

Cheng-Chung Lee, Kai Wu, Tzu-Ling Ni

96,00 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2012, 09.05.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659001987

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » Electricity

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste