SULJE VALIKKO

avaa valikko

Tedi Kujofsa | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Heteroepitaxy of Semiconductors - Theory, Growth, and Characterization, Second Edition
John E. Ayers; Tedi Kujofsa; Paul Rago; Johanna Raphael
Taylor & Francis Inc (2016)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
304,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Heteroepitaxy of Semiconductors - Theory, Growth, and Characterization, Second Edition
John E. Ayers; Tedi Kujofsa; Paul Rago; Johanna Raphael
Taylor & Francis Ltd (2020)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
128,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Heteroepitaxy of Semiconductors - Theory, Growth, and Characterization, Second Edition
304,40 €
Taylor & Francis Inc
Sivumäärä: 643 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2nd edition
Julkaisuvuosi: 2016, 18.10.2016 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
In the past ten years, heteroepitaxy has continued to increase in importance with the explosive growth of the electronics industry and the development of a myriad of heteroepitaxial devices for solid state lighting, green energy, displays, communications, and digital computing. Our ever-growing understanding of the basic physics and chemistry underlying heteroepitaxy, especially lattice relaxation and dislocation dynamic, has enabled an ever-increasing emphasis on metamorphic devices. To reflect this focus, two all-new chapters have been included in this new edition. One chapter addresses metamorphic buffer layers, and the other covers metamorphic devices. The remaining seven chapters have been revised extensively with new material on crystal symmetry and relationships, III-nitride materials, lattice relaxation physics and models, in-situ characterization, and reciprocal space maps.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Heteroepitaxy of Semiconductors - Theory, Growth, and Characterization, Second Editionzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781482254358
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste