SULJE VALIKKO

avaa valikko

Tapan Sarkar | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 9 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrology
Tapan K. Sarkar; Magdalena Salazar-Palma; Ming Da Zhu; Heng Chen
John Wiley & Sons Inc (2021)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
141,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Physics and Mathematics of Electromagnetic Wave Propagation in Cellular Wireless Communication
Tapan K. Sarkar; Magdalena Salazar Palma; Mohammad Najib Abdallah
John Wiley & Sons Inc (2018)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
122,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Higher Order Basis Based Integral Equation Solver (HOBBIES)
Yunong Zhang; Tapan K. Sarkar; Xunwang Zhao; Daniel Garcia-Donoro; Weixin Zhao; Magdalena Salazar Palma; Sioweng Ting
John Wiley & Sons Inc (2012)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
210,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Wavelet Application in Engineering Electromagnetics
Magdalena Salazar-Palma; Tapan Sarkar; Michael Wicks
Artech House Publishers (2002)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Kovakantinen kirja
220,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Development of coated electrode introducing nano particles for ADI
Tapan Sarkar
LAP Lambert Academic Publishing (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
92,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Intuitionistic Fuzzy Optimization On Structural Designs
Mridula Sarkar; Tapan Kumar Roy
LAP Lambert Academic Publishing (2020)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
86,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Sviluppo di un nano composito Ni-Al per studiare le proprietà meccaniche
Tapan Sarkar
Edizioni Sapienza (2022)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja
89,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Développement d'un nanocomposite Ni-Al pour l'étude de ses propriétés mécaniques
Tapan Sarkar
Editions Notre Savoir (2022)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja
89,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Quark Gluon Plasma - Proceedings of QGP Meet Workshop
Jajati K. Nayak; Tapan K. Nayak; Sourav Sarkar
Narosa Publishing House (2015)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
81,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrology
141,60 €
John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 720 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2021, 24.08.2021 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
New method for the characterization of electromagnetic wave dynamics

Modern Characterization of Electromagnetic Systems introduces a new method of characterizing electromagnetic wave dynamics and measurements based on modern computational and digital signal processing techniques.  The techniques are described in terms of both principle and practice, so readers understand what they can achieve by utilizing them.

Additionally, modern signal processing algorithms are introduced in order to enhance the resolution and extract information from electromagnetic systems, including where it is not currently possible. For example, the author addresses the generation of non-minimum phase or transient response when given amplitude-only data.



Presents modern computational concepts in electromagnetic system characterization
Describes a solution to the generation of non-minimum phase from amplitude-only data
Covers model-based parameter estimation and planar near-field to far-field transformation as well as spherical near-field to far-field transformation

Modern Characterization of Electromagnetic Systems is ideal for graduate students, researchers, and professionals working in the area of antenna measurement and design. It introduces and explains a new process related to their work efforts and studies.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Modern Characterization of Electromagnetic Systems and its Associated Metrologyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781119076469
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste