SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Simon P. Ringer | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Atom Probe Microscopy
Baptiste Gault; Michael P. Moody; Julie M. Cairney; Simon P. Ringer
Springer (2012)
Kovakantinen kirja
198,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atom Probe Microscopy
Baptiste Gault; Michael P. Moody; Julie M. Cairney; Simon P. Ringer
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
198,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic-Scale Analytical Tomography: Concepts and Implications
Thomas F. Kelly; Brian P. Gorman; Simon P. Ringer
Cambridge University Press (2022)
Kovakantinen kirja
138,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Springer
Sivumäärä: 396 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2012
Julkaisuvuosi: 2012, 14.05.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Series in Materials Science 160

Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument’s capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.


Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atom Probe Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461434351
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste