SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
HIGH THROUGHPUT, ON-CHIP, IN SITU INVESTGATIONS OF STRUCTURAL PROPERTIES OF POLYCRYSTALLINE SILICON FOR MICROELECTROMECHANICAL S | ||
| High Throughput, On-Chip, in Situ Investgations of Structural Properties of Polycrystalline Silicon for Microelectromechanical S 131,30 € Proquest, Umi Dissertation Publishing Sivumäärä: 224 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781244708273 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |