SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
STRUCTURAL, SYNTACTIC, AND STATISTICAL PATTERN RECOGNITION - JOINT IAPR INTERNATIONAL WORKSHOP, SSPR & SPR 2012, HIROSHIMA, JAPA | ||
| Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japa 49,60 € Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Sivumäärä: 755 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2012, 22.09.2012 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783642341656 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |