Tekijä: Shijie Wang; J. E. Dutrizac; Michael L. Free; James Y. Hwang; Daniel Kim Kustantaja: John Wiley & Sons Inc (2012) Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
Tekijä: Shijie Wang (ed.); Michael L Free (ed.); Shafiq Alam (ed.); Mingming Zhang (ed.); Patrick R. Taylor (ed.) Kustantaja: Springer (2017) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Jiann-Yang Hwang (ed.); Tao Jiang (ed.); Mark William Kennedy (ed.); Dean Gregurek (ed.); Shijie Wang (ed.); Baojun ( Zhao Kustantaja: Springer (2018) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Jiann-Yang Hwang (ed.); Tao Jiang (ed.); Mark William Kennedy (ed.); Dean Gregurek (ed.); Shijie Wang (ed.); Baojun ( Zhao Kustantaja: Springer (2019) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Shijie Wang (ed.); Michael L Free (ed.); Shafiq Alam (ed.); Mingming Zhang (ed.); Patrick R. Taylor (ed.) Kustantaja: Springer (2018) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Michael L. Free; Michael Moats; Georges Houlachi; Edouard Asselin; Antoine Allanore; Jim Yurko; Shijie Wang Kustantaja: John Wiley & Sons Inc (2012) Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
Tekijä: Neale R. Neelameggham; Shafiq Alam; Harald Oosterhof; Animesh Jha; Shijie Wang Kustantaja: John Wiley & Sons Inc (2014) Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
Tekijä: Neale R. Neelameggham; Shafiq Alam; Harald Oosterhof; David Dreisinger; Shijie Wang; Animesh A. Jha Kustantaja: John Wiley & Sons Inc (2015) Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa
Tekijä: Boyd R. Davis (ed.); Michael S. Moats (ed.); Shijie Wang (ed.); Dean Gregurek (ed.); Joël Kapusta (ed.); Thomas P. Battle Kustantaja: Springer (2018) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Boyd R. Davis (ed.); Michael S. Moats (ed.); Shijie Wang (ed.); Dean Gregurek (ed.); Joël Kapusta (ed.); Thomas P. Battle Kustantaja: Springer (2019) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Proceedings of a symposium sponsored by the Hydrometallurgy and Electrometallurgy Committee and the Materials Characterization Committee of the Extraction and Processing Division of TMS (The Minerals, Metals & Materials Society) Held during the TMS 2012 Annual Meeting & Exhibition Orlando, Florida, USA March 11-15, 2012
