Santosh Kumar Vishvakarma | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

VLSI DESIGN AND TEST : 23RD INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2019, INDORE, INDIA, JULY 4–6, 2019, REVISED SELECTED PAPERS

Anirban Sengupta (ed.); Sudeb Dasgupta (ed.); Virendra Singh (ed.); Rohit Sharma (ed.); Santosh Kumar Vishvakarma (ed.)
Springer (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja

105,60 €

ENERGY EFFICIENT AND RELIABLE EMBEDDED NANOSCALE SRAM DESIGN

Bhupendra Singh Reniwal; Pooran Singh; Ambika Prasad Shah; Santosh Kumar Vishvakarma
Taylor & Francis Ltd (2023)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja

138,70 €

ADVANCED MOS DEVICES AND THEIR CIRCUIT APPLICATIONS

Ankur Beohar; Ribu Mathew; Abhishek Kumar Upadhyay; Santosh Kumar Vishvakarma
Taylor & Francis Ltd (2024)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja

124,80 €

VLSI Design and Test : 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

Anirban Sengupta (ed.), Sudeb Dasgupta (ed.), Virendra Singh (ed.), Rohit Sharma (ed.), Santosh Kumar Vishvakarma (ed.)

105,60 €

Springer
Sivumäärä: 775 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2019, 18.08.2019 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.

The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus