SULJE VALIKKO

avaa valikko

Sandip Kundu | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Sandip Kundu; Aswin Sreedhar
McGraw Hill (2010)
Kovakantinen kirja
147,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Niraj K. Jha; Sandip Kundu
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Intermittent Failures in Integrated Circuits - Detection, Characterization and Fault Tolerance
Alodeep Sanyal; Sandip Kundu; Ilia Polian
Springer-Verlag New York Inc. (2016)
Kovakantinen kirja
105,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Niraj K. Jha; Sandip Kundu
Springer (2011)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
147,00 €
McGraw Hill
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 16.08.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Publisher's Note: Products purchased from Third Party sellers are not guaranteed by the publisher for quality, authenticity, or access to any online entitlements included with the product.


Cutting-Edge CMOS VLSI Design for Manufacturability Techniques

This detailed guide offers proven methods for optimizing circuit designs to increase the yield, reliability, and manufacturability of products and mitigate defects and failure. Covering the latest devices, technologies, and processes, Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability focuses on delivering higher performance and lower power consumption. Costs, constraints, and computational efficiencies are also discussed in the practical resource.

Nanoscale CMOS VLSI Circuits covers:

  • Current trends in CMOS VLSI design
  • Semiconductor manufacturing technologies
  • Photolithography
  • Process and device variability: analyses and modeling
  • Manufacturing-Aware Physical Design Closure
  • Metrology, manufacturing defects, and defect extraction
  • Defect impact modeling and yield improvement techniques
  • Physical design and reliability
  • DFM tools and methodologies


Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780071635196
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste