SULJE VALIKKO

avaa valikko

Sandip Kundu | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
Sandip Kundu; Aswin Sreedhar
McGraw-Hill Education - Europe (2010)
Kovakantinen kirja
146,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Niraj K. Jha; Sandip Kundu
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Intermittent Failures in Integrated Circuits - Detection, Characterization and Fault Tolerance
Alodeep Sanyal; Sandip Kundu; Ilia Polian
Springer-Verlag New York Inc. (2016)
Kovakantinen kirja
105,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Niraj K. Jha; Sandip Kundu
Springer-Verlag New York Inc. (2011)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability
146,50 €
McGraw-Hill Education - Europe
Sivumäärä: 316 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 16.08.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Publisher's Note: Products purchased from Third Party sellers are not guaranteed by the publisher for quality, authenticity, or access to any online entitlements included with the product.
Cutting-Edge CMOS VLSI Design for Manufacturability TechniquesThis detailed guide offers proven methods for optimizing circuit designs to increase the yield, reliability, and manufacturability of products and mitigate defects and failure. Covering the latest devices, technologies, and processes, Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturability focuses on delivering higher performance and lower power consumption. Costs, constraints, and computational efficiencies are also discussed in the practical resource.

Nanoscale CMOS VLSI Circuits covers:



Current trends in CMOS VLSI design
Semiconductor manufacturing technologies
Photolithography
Process and device variability: analyses and modeling
Manufacturing-Aware Physical Design Closure
Metrology, manufacturing defects, and defect extraction
Defect impact modeling and yield improvement techniques
Physical design and reliability
DFM tools and methodologies

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Nanoscale CMOS VLSI Circuits: Design for Manufacturabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780071635196
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste