SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Stress-Induced Phenomena in Metallization : Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization 141,30 € American Institute of Physics Sivumäärä: 204 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2007 Julkaisuvuosi: 2007, 13.11.2007 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Materials Physics and Applications The conference was on reliability related science in ULSI interconnect. Its main purpose was to discuss the stress induced phenomena in the LSI interconnect among academic researchers and industry engineers to establish academic science and to improve the reliability of ULSI chips. All papers were peer reviewed. Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780735404595 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |