Ronkainen Hannu | Akateeminen Kirjakauppa

TEST STRUCTURES FOR THE LOCAL OXIDIZED SELF-ALIGNED POLYSILICON GATE CMOS PROCESS, NORDICMOS

"Pohjonen Helena; Ronkainen Hannu; Silen Marie-Louise"
Valtion teknillinen tutkimuslaitos VTT (1984)

40,50 €

Test structures for the local oxidized self-aligned polysilicon gate CMOS process, NORDICMOS

40,50 €

Valtion teknillinen tutkimuslaitos VTT
Sivumäärä: 97 sivua
Julkaisuvuosi: 1984 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

Loppuunmyyty

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9789513819811

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja