KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
Rohit Kumar Gupta | Akateeminen Kirjakauppa
| VLSI Design and Test - 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers 105,60 € Springer Verlag, Singapore Sivumäärä: 775 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: 1st ed. 2019 Julkaisuvuosi: 2019, 18.08.2019 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Communications in Computer and Information Science 1066 This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
 Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9789813297661 Aihealue: |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |