SULJE VALIKKO

avaa valikko

Robert R. Keller | Akateeminen Kirjakauppa

MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS VII: VOLUME 473

Materials Reliability in Microelectronics VII: Volume 473
J. Joseph Clement; Robert R. Keller; Kathleen S. Krisch; Sanchez, Jr, John E.; Zhigang Suo
Materials Research Society (1997)
Kovakantinen kirja
30,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials Reliability in Microelectronics VII: Volume 473
30,30 €
Materials Research Society
Sivumäärä: 457 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1997, 20.10.1997 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The inexorable drive for increased integrated circuit functionality and performance places growing demands on the metal and dielectric thin films used in fabricating these circuits, as well as spurring demand for new materials applications and processes. This book directly addresses issues of widespread concern in the microelectronics industry - smaller feature sizes, new materials and new applications that challenge the reliability of new technologies. While the book continues the focus on issues related to interconnect reliability, such as electromigration and stress, particular emphasis is placed on the effects of microstructure. An underlying theme is understanding the importance of interactions among different materials and associated interfaces comprising a single structure with dimensions near or below the micrometer scale. Topics include: adhesion and fracture; gate oxide growth and oxide interfaces; surface preparation and gate oxide reliability; oxide degradation and defects; micro-structure, texture and reliability; novel measurement techniques; interconnect performance and reliability modeling; electromigration and interconnect reliability and stress and stress relaxation.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Materials Reliability in Microelectronics VII: Volume 473
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781558993778
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste