SULJE VALIKKO

avaa valikko

Robert E. Geer | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-material Systems IV
Robert E. Geer; et al.
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja
227,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing, Reliability, and Application of Micro- And Nano-material Systems III
Robert E. Geer; Norbert Meyendorf; George Y. Baaklini; Bernd Michel
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja
227,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Planeten in transit
Robert Hand; E. M. J. Prinsen Geerligs-Bakker
Milinda Uitgevers B.V.
Pehmeäkantinen kirja
72,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-material Systems IV
227,30 €
SPIE Press
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2008, 30.01.2008 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-material Systems IV
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819462282
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste