Richard Youngworth | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION VIII

Jose Sasian; Richard Youngworth
SPIE Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja

133,50 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT AND TOLERANCING II

Jose M. Sasian; Richard N. Youngworth
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

231,80 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION VII

Jose Sasian; Richard Youngworth
SPIE Press (2013)
Pehmeäkantinen kirja

145,30 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION IX

Jose Sasian; Richard Youngworth
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja

140,80 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION X

Jose Sasian; Richard N. Youngworth
SPIE Press (2016)
Pehmeäkantinen kirja

192,50 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION XI

Jose Sasian; Richard Youngworth
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

167,30 €

OPTICAL INSTRUMENT SCIENCE, TECHNOLOGY, AND APPLICATIONS

Nils Haverkamp; Richard Youngworth
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

186,00 €

OPTICAL SYSTEM ALIGNMENT, TOLERANCING, AND VERIFICATION XII

Jose Sasian; Richard Youngworth
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

148,00 €

REVIEW OF OPTICAL MANUFACTURING 2000 TO 2020

Aizhong Zhang; Richard N. Youngworth
MP-SPI SPIE Press (2021)
Pehmeäkantinen kirja

89,90 €

MODERN OPTICS DRAWINGS - THE ISO 10110 COMPANION

Eric Herman; David Aikens; Richard N. Youngworth
MP-SPI SPIE Press (2022)
Pehmeäkantinen kirja

66,50 €

Hae lisää...

Optical System Alignment, Tolerancing, and Verification VIII

Jose Sasian, Richard Youngworth

133,50 €

SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 30.10.2014 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus