Richard T Ekai | Akateeminen Kirjakauppa

OPTOELECTRONIC CHARACTERISATION OF SI/SINX INTERFACES OF STRUCTURED SILICON SOLAR CELLS

Richard T Ekai
Shaker Verlag (2001)
Pehmeäkantinen kirja

72,90 €

Optoelectronic characterisation of Si/SiNx interfaces of structured silicon solar cells

Richard T Ekai

72,90 €

Shaker Verlag
Sivumäärä: 139 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 01.01.2001 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Berichte aus der Physik

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tulossa! 01.12.2019 Kustantajan ilmoittama saatavuuspäivä on ylittynyt, selvitämme saatavuutta. Voit tehdä tilauksen heti ja toimitamme tuotteen kun saamme sen varastoomme. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus