SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Rajpal Sirohi | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Optical Methods of Measurement - Wholefield Techniques, Second Edition
Rajpal Sirohi
Taylor & Francis Inc (2009)
Kovakantinen kirja
237,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Introduction to Optical Metrology
Rajpal S. Sirohi
Taylor & Francis Inc (2015)
Kovakantinen kirja
164,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Selected Papers on Holographic Interferometry: Applications
Rajpal Sirohi; Wolfgang Osten; Cho Tay; Hua Shang; Fook Chau
SPIE Press (2001)
Kovakantinen kirja
133,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Optical Methods of Measurement - Wholefield Techniques, Second Edition
Rajpal Sirohi
Taylor & Francis Ltd (2017)
Pehmeäkantinen kirja
98,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Selected Papers on Electronic Speckle Pattern Interferometry - Principles and Practice
Klaus D. Hinsch; Peter Meinlschmidt; Rajpal S. Sirohi
SPIE Press (1996)
Pehmeäkantinen kirja
127,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Optical Methods of Measurement - Wholefield Techniques, Second Edition
237,50 €
Taylor & Francis Inc
Sivumäärä: 316 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2nd edition
Julkaisuvuosi: 2009, 26.06.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Optical Methods of Measurement: Wholefield Techniques, Second Edition provides a comprehensive collection of wholefield optical measurement techniques for engineering applications. Along with the reorganization of contents, this edition includes a new chapter on optical interference, new material on nondiffracting and singular beams and their applications, and updated bibliography and additional reading sections.

The book explores the propagation of laser beams, metrological applications of phase-singular beams, various detectors such as CCD and CMOS devices, and recording materials. It also covers interference, diffraction, and digital fringe pattern measurement techniques, with special emphasis on phase measurement interferometry and algorithms. The remainder of the book focuses on theory, experimental arrangements, and applications of wholefield techniques. The author discusses digital hologram interferometry, digital speckle photography, digital speckle pattern interferometry, Talbot interferometry, and holophotoelasticity.

This updated book compiles the major wholefield methods of measurement in one volume. It provides a solid understanding of the techniques by describing the physics behind them. In addition, the examples given illustrate how the techniques solve measurement problems.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Optical Methods of Measurement - Wholefield Techniques, Second Editionzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781574446975
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste