Rajpal Sirohi | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

SELECTED PAPERS ON HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY: APPLICATIONS

Rajpal Sirohi; Wolfgang Osten; Cho Tay; Hua Shang; Fook Chau
John Wiley & Sons (2001)
Kovakantinen kirja

130,00 €

OPTICAL METHODS OF MEASUREMENT - WHOLEFIELD TECHNIQUES, SECOND EDITION

Rajpal Sirohi
Taylor & Francis Inc (2009)
Kovakantinen kirja

244,80 €

INTRODUCTION TO OPTICAL METROLOGY

Rajpal S. Sirohi
Taylor & Francis Inc (2015)
Kovakantinen kirja

169,50 €

SELECTED PAPERS ON SPECKLE METROLOGY

Sirohi Sirohi; Rajpal S. Sirohi
MP-SPI SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja

131,30 €

OPTICAL METHODS OF MEASUREMENT - WHOLEFIELD TECHNIQUES, SECOND EDITION

Rajpal Sirohi
Taylor & Francis Ltd (2017)
Pehmeäkantinen kirja

101,80 €

SELECTED PAPERS ON ELECTRONIC SPECKLE PATTERN IN - PRINCIPLES AND PRACTICE

Klaus D. Hinsch; Peter Meinlschmidt; Rajpal S. Sirohi
John Wiley & Sons (1996)
Pehmeäkantinen kirja

110,50 €

Selected Papers on Holographic Interferometry: Applications

Rajpal Sirohi, Wolfgang Osten, Cho Tay, Hua Shang, Fook Chau

130,00 €

John Wiley & Sons
Sivumäärä: 768 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 30.11.2001 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Applications of holographic interferometry are so vast that they are limited only by the imagination of the researchers. This collection represents a variety of HI applications, from micro-crack detection in ancient paintings to holographic testing of nuclear technology.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus