SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Raimund Ubar | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Raimund Ubar
IGI Global (2010)
Kovakantinen kirja
203,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Structural Decision Diagrams in Digital Test : Theory and Applications
Raimund Ubar; Jaan Raik; Maksim Jenihhin; Artur Jutman
Birkhäuser (2024)
Kovakantinen kirja
190,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
203,80 €
IGI Global
Sivumäärä: 350 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 30.12.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined ""classical"" design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chipzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781609602123
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste