SULJE VALIKKO

avaa valikko

Philippe Pougnet | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc (2016)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
151,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Embedded Mechatronic Systems - Analysis of Failures, Predictive Reliability
Abdelkhalak El Hami; Philippe Pougnet
ISTE Press Ltd - Elsevier Inc (2019)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
98,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Embedded Mechatronic Systems 2 - Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Abdelkhalak El Hami; Philippe Pougnet
ISTE Press Ltd - Elsevier Inc (2020)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
98,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 - Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc (2021)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
150,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 - Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc (2021)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
150,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
151,50 €
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 316 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2016, 12.08.2016 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Lightzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781848219366
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste