KIRJAUDU
Patrick W. DeHaven | Akateeminen Kirjakauppa
X-RAY DIFFRACTION AT ELEVATED TEMPERATURES | ||
| X-ray Diffraction at Elevated Temperatures 303,40 € Wiley-Blackwell Sivumäärä: 268 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 1993, 26.02.1993 (lisätietoa) Tuotteella ei tuotekuvausta. Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780471187264 Aihealue: | |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajatUsein kysytyt Akateemisen Ystäväklubi Toimitusehdot Tietosuojaseloste |
Seuraa Akateemista
InstagramThreads TikTok YouTube |